主要有一下几个路径:

1. 开发阶段的寿命预测,主要是通过通过器件的应力即失效率评估来获得电力电子设备的MTBF(mean time between failure)值

2. 通过寿命实验设计来获得需要的值

通常是通过加速老化测试(accelerate life test):选用一定数量的样品,设定加严的条件(通常是通过升高一定的温度),通过一定长度的实验时间,观察样品的损坏个数等情况,从而得到MTBF值

3. 从产品在市场上的返修率倒推产品的寿命

即通过AFR(年返修率或失效率)推算产品的无故障失效时间(MTBF)

...

很多途径,就不全部列举了

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